ICP-OES
L’ICP-OES, également connu sous le nom d’ICP-EAS, est utilisé pour le contrôle de qualité et la R&D dans l’industrie. N’hésitez pas à nous adresser vos questions au sujet de l’ICP et à nous contacter pour l’achat d’un analyseur.
L’IPC-OES convient-il à mon application ?
Le choix de la technique ICP-OES pour votre application dépend de la sensibilité que vous souhaitez atteindre dans vos mesures. Différentes techniques sont disponibles pour analyser les éléments :
- XRF : les éléments sont visibles à faible valeur ppm.
- ICP-OES : les éléments sont visibles à faible valeur ppb.
- ICP-MS : les éléments sont visibles à faible valeur ppt (également isotopes).
En plus de la sensibilité, le matériau et les éléments déterminent également la technique la plus appropriée. Les techniques précitées sont capables de détecter plusieurs éléments en une seule analyse (analyse multi-éléments). Pour utiliser l’ICP-OES, il est important que votre laboratoire dispose d’un système d’extraction et d’un approvisionnement en gaz argon. L’ICP-OES est en effet une technique qui fonctionne avec des consommables, comme l’argon. C’est également un avantage si l’analyste principal qui l’utilise dans son travail dispose des connaissances chimiques, ce qui est particulièrement important pour l’introduction des échantillons et l’interprétation des résultats. Une caractéristique unique de notre ICP-OES : les systèmes sont capables de mesurer une solution saline jusqu’à 40 %.
Préparation des échantillons pour l’ICP-OES
La préparation d’échantillons est une exigence importante de l’ICP-OES. Pour effectuer une mesure, on utilise des solutions homogènes limpides. Cela peut signifier qu’un échantillon solide doit être dissous, ce qui peut être fait en utilisant des solvants appropriés et en chauffant. Si le matériau ne se dissout pas facilement, il est possible de procéder à une destruction à l’aide d’un micro-ondes.
Mesure axiale et mesure radiale
Avec un ICP-OES, une distinction est faite entre mesure axiale et mesure radiale. Différents types d’ICP sont disponibles :
- Dual view : la configuration plasma la plus couramment utilisée à l’heure actuelle. L’ICP procède en l’occurrence à une mesure tant sur le plan axial que sur le plan radial.
- Dual-side-on-interface (DSOI) : toute dernière technologie en matière d’ICP. L’ICP mesure en l’occurrence radialement avec une deuxième position de visualisation radiale, ce qui a pour conséquence que les limites de détection sont inférieures jusqu’à un facteur 2, sans effets matriciels supplémentaires.
- Multi-view : utilisé pour les applications de niche. Dans ce cas, le plasma peut être converti tant sur le plan radial que sur le plan axial.
Nos spectromètres
Nous sommes le partenaire officiel de SPECTRO depuis 1996. N’hésitez pas à nous contacter pour la gamme complète d’ICP-OES. Les ICP de SPECTRO sont réputés pour leur innovation, leur robustesse et leur précision. Forts de notre longue expérience, nos spécialistes en applications de produit (SAP) disposent de connaissances approfondies et sont en mesure de vous soutenir dans votre application. Notre SAP dispense une formation à vos analystes et vous pouvez lui adresser vos questions à tout moment. Par ailleurs, nos ingénieurs en maintenance font tout ce qui est en leur pouvoir pour vous aider en cas de panne ou d’entretien. Si notre ICP-OES vous intéresse, nous ferons un plaisir de vous en faire une démonstration.
