SPECTRO XEPOS
Analyse ED-XRF avec des performances exceptionnelles
- Détermination de Na-U dans des échantillons complètement inconnus, dans toutes matrices
- La configuration unique de l'optique offre des performances WD-XRF au prix de l’ED-XRF
- Kits d'applications « plug-and-play »
- Grande surface, haute résolution, détecteur à dérive au silicium pour une sensibilité inégalée
- Utilisation aisée et changeur d'échantillon pour 8 (avec l'option de fileur), 12 ou 25 échantillons
Le nouveau spectromètre SPECTRO XEPOS marque un saut quantique dans la technologie de fluorescence des rayons X par analyse dispersive en énergie. Il réalise des avancées décisives dans l'analyse multi-élémentaire de concentrations d'éléments majeurs, mineurs et traces. Les nouvelles évolutions en matière d'excitation et de détection offrent une sensibilité et des limites de détection exceptionnelles, ce qui génère des gains remarquables sur le plan de la précision et de l’exactitude.
Analyses de dépistage et contrôles de qualité
L'incroyable SPECTRO XEPOS excelle dans les tâches critiques, de l'analyse rapide du dépistage au contrôle précis de la qualité des produits. Utilisez-le pour le traitement « at-line » dans plusieurs industries, pour la géologie et l'exploitation minière, pour la surveillance de l'environnement et des déchets, ainsi que pour la recherche et les universités.
Configurations
Différentes versions maximisent les performances pour les groupes élémentaires sélectionnés dans des matrices spécifiques. Un tube à rayons X innovant et une nouvelle technologie d'excitation adaptative unique apportent la sensibilité la plus élevée possible, optimisée pour cibler les éléments choisis.
Excitation | X-ray tube with thick binary Pd/Co alloy anode with air-cooling Max. power: 50 W Max. voltage: 50 kV (60 kV in XEPOS HE) Adaptive excitation system with optimized filters HAPG polarizer for improved sensitivity of elements in the range Na-Cl (in XEPOS C, P, HE) Bandpass filter for improved performance for elements in the range K-Mn (in XEPOS P, HE) |
Detection | SDD with Peltier cooling Large detector area (30 mm2, active area 20 mm2) Spectral resolution (FWHM) ≤ 130 eV for Mn K-alpha Input count rate up to 1,000,000 counts per second Detector filter changer for active pile-up reduction (optional in XEPOS P, standard in XEPOS HE) |
Environmental Conditions | Room temperature: 10-35 °C (50-95 °F) |
Dimensions | 465 (H) x 618 (W) x 730 (D) mm |
Weight | approx. 65 kg |
Electrical Requirements | 90 – 253 VAC; 50/60 Hz 16 A (slow blow fuse) Approx. 1200 W power consumption |
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